原子力顯微鏡

  Dimension FastScan原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon®分辨率的儀器性能前提下，大限度的成像速度。這項(xiàng)技術(shù)，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶(hù)獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
   Dimension FastScan原子力顯微鏡AFM使用效率和檢測(cè)性能，Bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨率，不增加操作復(fù)雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶(hù)實(shí)現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí)，設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度 > 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一技術(shù)重新定義了AFM儀器的操作和功能。。聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，細(xì)胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，食品、化學(xué)品、護(hù)膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤(pán)存儲(chǔ)，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質(zhì)、能源、環(huán)境等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類(lèi)科研和生產(chǎn)工作

儀器檢測(cè)性能

·  在空氣或液體中成像速度是原來(lái)速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)和檢測(cè)器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
·  自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

測(cè)量分辨率
·  Fastscan的力控制模式圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命。
·  掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
·  低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。

測(cè)試功能，適用于各類(lèi)AFM樣品
·  閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有低的熱漂移率，可得到分辨的真實(shí)圖像。
·  Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量，掃描過(guò)程中從埃級(jí)到0.1μm的無(wú)失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得低噪音和分辨率的圖像，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進(jìn)行高速掃描檢測(cè)，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會(huì)幫助您將儀器的功能開(kāi)發(fā)到，實(shí)現(xiàn)其它單一模式的儀器所達(dá)不到的效果。